Licenciatura e Bacharelado em Física (UEM); 

Mestrado pelo Instituto de Artes da UNICAMP; 

Doutorado e Pós-Doutorado em Física (UEM);

Professor Associado III da UFSM; 

Pesquisador Visitante (LBNL), Berkeley-CA, USA; 

Pesquisa: Aplicação de Técnicas Não-Destrutivas: 

Fotoacústica (PAS e OPC) e Perfilometria (DSP e ESPI); ​

Eletroacústica e Técnicas de Registro Fonográfico.